Normalvy
MARC-vy
Reliability characteristics of various microcircuit technologies Klein, MR ; Lauffenburger, HA
Utgivningsinformation: Warrendale, PA Society of Automotive Engineers. Paper nr 77 02 27, 1977Beskrivning: 9 sÄmnen: Bibl.nr: VTI P2000Location:| Omslagsbild | Exemplartyp | Aktuellt bibliotek | Hembibliotek | Avdelning | Hyllplacering | Hyllsignatur | Del av materialet som avses | Volyminfo | URL | Ex.nummer | Status | Kommentarer | Förfallodatum | Streckkod | Exemplarreservationer | Köplats för exemplarreservation | Kurslistor | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Statens väg- och transportforskningsinstitut | Tillgänglig |