Normalvy
MARC-vy
Reliability characteristics of various microcircuit technologies Klein, MR ; Lauffenburger, HA
Utgivningsinformation: Warrendale, PA Society of Automotive Engineers. Paper nr 77 02 27, 1977Beskrivning: 9 sÄmnen: Bibl.nr: VTI P2000Location:| Aktuellt bibliotek | Status | |
|---|---|---|
| Statens väg- och transportforskningsinstitut | Tillgänglig |